Mi a különbség a részleges kisülési teszt és a Hipot teszt között?
Mind a részleges kisülési teszt, mind a HIPOT -teszt fontos módszer az elektromos berendezések szigetelésének ellenőrzésére. A detektálási célok, a műszaki alapelvek és az alkalmazás forgatókönyveiben azonban jelentős különbségek vannak. A HIPOT -teszt a szigetelés általános ellenállási képességének ellenőrzésére összpontosít nagyfeszültség alkalmazásával, míg a PD -tesztet a berendezés részleges kisülésének elnyomására használják a teszt során, hogy a tesztobjektum potenciális szigetelési hibáit pontosan észleljék.
Hipot -teszt: Ez a teszt elsősorban a berendezés fő szigetelésének általános szilárdságát vizsgálja. A névleges munkamódfeszültségnél magasabb tesztfeszültség alkalmazásával (általában 1-5 percig tartó), meghatározza, hogy a szigetelés lebontott -e, vagy súlyos szivárgás van -e. Az alapvető cél a szigetelés "károsodásának" ellenállásának igazolása. Nagyfeszültség alkalmazásával az energiafrekvencia -teszt transzformátoron vagy a sorozat rezonancia tesztrendszerén, és a szigetelő anyag tolerancia képességének felhasználásával erős elektromos mező alatt meghatározza a képesítését.
Partiális kisülési teszt: Az ellenállási feszültségteszt alapján a hangsúly a tesztobjektum nagyfeszültségű részleges kisülési jeleinek észlelésére. Ugyanakkor szükség van arra, hogy maga a tesztkészülék részleges kisülési mennyisége rendkívül alacsony legyen (kisülési tulajdonságok nélkül), hogy elkerülje a tesztobjektum valódi részleges kisülési jeleit. Az alapvető cél a "mikroszkópos hibák" felfedezése a szigetelésen belül (például gyártási hibák, öregedési károk és így tovább). Különleges szigetelő anyagok felhasználásával és az elektromos mező kialakításának optimalizálásával maga a tesztelő eszköz részleges kisülési mennyisége rendkívül alacsony (általában <5 pc), biztosítva a tesztobjektumok részleges kisülési jeleinek pontosságát.